最后一個階段就是可靠性測試，主要就是針對芯片施加各種苛刻環(huán)境，比如esd靜電，就是模擬人體或模擬工業(yè)體去給芯片加瞬間大電壓，然后在高溫下加速芯片老化，估算芯片的壽命。

        可靠性測試需要時間比較長，全套流程下來，至少需要3~5天的時間，而段云現(xiàn)在主要就是查看板級測試以及晶圓CP測試的結(jié)果。

        而今晚的測試結(jié)果確實沒讓段云失望，在40分鐘的測試時間里，第2代的NAND閃存芯片各項指標(biāo)都非常的良好，完全符合設(shè)計的要求。

        雖然還沒有完成最終的可靠性測試，但是走到這一步，已經(jīng)算是基本成功了，如果可靠性沒有問題的話，那么一微米制程的NAND閃存芯片就算是研發(fā)成功了。

        測試臺上，Pcd版模擬器燈光閃動，在旁邊的顯示器上，很快就出現(xiàn)了一排排的參數(shù)，數(shù)字小幅度來回波動，顯示一切正常。

        “沒問題，成了……”此時的黃令儀雖然表情平靜，但是內(nèi)心卻非常的激動，控制數(shù)據(jù)臺的手指也有些微微顫抖。

        “祝賀大家！”到了這一刻，短語的臉上也露出了笑容，和參與測試的幾個工程師挨個握手。

        一時間，實驗室中想起了熱烈的掌聲，每個人的臉上都洋溢著笑容，為了今天這一刻，很多人付出了非常大的心血，而他們也創(chuàng)造了一個奇跡，將摩爾定律整整壓縮了一半時間。

        “今晚大家回去好好睡一覺，明天下午我會安排一個表彰會，對大家承諾的獎金我都會現(xiàn)場兌現(xiàn)?！倍卧茖Ρ娙苏f了一句，然后轉(zhuǎn)頭看向黃令儀，對她說道：“你的下一個任務(wù)就是把論文寫出來，我會先將這項技術(shù)申請國際專利，等專利進(jìn)入審核程序后，你的文章就可以發(fā)表了……”

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